[中介]HS-MWR-2S-3无接触少子寿命扫描仪是一款功能异常强大的无接触少子寿命扫描仪，能够对单晶硅棒、多晶硅块及硅片提供快速、无接触、无损伤、高分辨率的多功能扫描测试，其通过微波光电衰退特性原理来测量非平

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HS-FT320便携式热像检测仪利用红外热成像技术，对被检测物体的热红外辐射探测，并加以信号处理、光电转换等手段，将标的物的温度分布的图像转换成可视图像的检测设备。常用于机房，光伏电站，配电室，发电机，工业炉，电气生产设备等监控、故障的预防和排除。合能阳光针对光伏行业特点，开发的便携式热像检测仪，对光伏组件工作检测和光伏电站运行情况监测，具有灵敏度高，测试温度广，容易操作，测试精准等特点。

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[中介]全自动光谱椭偏仪(PH-ASE型)把使用者从烦琐的手动调节样品高度和倾斜度工作中解放出来，样品对准是为了保证椭偏仪测量的可重复性和精确性。已获得专利的自动样品对准装置能够显著减少操作失误；能够工作于

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[中介]光谱椭偏仪(PH-SE型)针对太阳能电池应用，可测量多晶硅/单晶硅绒面表面单层（二层或多层）减反射膜、和玻璃/有机基底上的薄膜太阳能电池。多层膜和非均匀薄膜的分析也非常出色。 针对太阳能电池应用的光谱

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[中介]HS-SRT-301型硅片线痕深度测试仪可用于测试硅片的表面线痕深度，具有便于携带、触摸屏便捷操作、液晶显示、节能等优点，同时内置打印机和充电电池，所有设计均符合JIS,DIN,ISO,ANSI等标准。

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[中介]HS-PSTT原生多晶及硅芯型号测试仪是一款高端半导体材料型号测试仪器，具有大量程测试范围的特点，尤其适用于西门子法原生硅料生产企业的高阻硅料（含硅芯、检磷棒、检硼棒等）以及各种低阻硅料型号测量，型

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[中介]特征 ■适用于硅片等各种材料的厚度TTV精确测量 ■测量范围：0～2mm ■分辨率：0.1μm ■微电脑控制、液晶显示 ■菜单式界面、PVC面板操作 ■接触式测量 ■测头自动升降 ■手动、自动双重测量模式

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[中介]本仪器用来测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器.本仪器按照半导体材料电阻率的国际及国家标准测试方法有关规定设计。 它主要由电器测量部份（主机）及

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[中介]1）适合于硅材料的氧、碳含量的测定； 2）可实现硅料中氧碳含量自动、快速、准确的测量； 3）具备完整的谱图采集、光谱转换、光谱处理、光谱分析及输出功能，使得操作更简单、方便、灵活。 4）全

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[中介]NIR-01-3D型红外探伤测试仪是采用欧洲CNC工程铝合金材料，其表面都采用了高强度漆面和电氧化工艺保护，系统外框采用高质量工业设计，所有的部件的设计都达到了长期高强度使用及最小维护量的要求，做到绝对

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